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本帖最后由 dabuyang 于 2015-4-25 19:07 编辑
: @. p* f4 Z0 [! p1 f3 Y. t" ?% x9 U2 N. e+ O8 g, I
产品是带隔离变压器的电源。
% X a# R+ f5 ]+ I& z3 p( ~目前打耐压是将初级侧输入端的L、N短接，然后与机壳打AC耐压。5 |1 `8 q$ i3 L! {0 x; @- U# Q
" T: j" r, C% p: H$ j1 W9 {
$ d# x# n- c+ R0 h2 b' b& `9 F4 Z测试结果，泄露电流没有超，但是次级侧地与机壳地跨接的Y电容闪络了。( _' \# t' v/ y- c. @$ F
4 E4 _, m/ h6 ?4 Y8 q: [/ d& H/ u; O
对测试过程，有三个疑惑，还请大神们帮忙解答：
- {+ x% J5 c2 E1 b9 ~ Y1 y! A2 Z6 V- \4 a# _& w
1.是否也要将次级侧的端子也做短接处理，即次级侧的端子与初级侧的L、N短接，然后与机壳打耐压。
$ x, |# \1 S3 z, W* c# R' {1 F9 G; C
- X! L" [2 A! O* ]: x& E2.由于保留Y电容，是否应该用打DC耐压，而不是AC耐压。
% X2 T& a" [+ A- {! e. H' s+ X0 M% r0 D, ]7 p# o4 i$ s# x& ^3 L: ~
3.这样的情形，判不判过，如果不行，该怎样整改呢 |
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发表于 2015-4-25 18:49
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