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有两个问题别人问我,我发来请各位同学探讨:
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. {; W) ~# j4 I! K1)在GB4706-2005标准中,在19.11.3 中规定:如果器具装有使器具符合第19章要求的保护电子电路,则按19.11,2中a) ~ f)的要求,相关试验以模拟单一故障的方式重复进行,如果这样的话就是既要按19.11,2中a) ~ f)的故障,又要符合19.2-19.10的故障条件,就是2个故障条件,还有就是如果19.11.3这样规定 ,以为本身就要符合19.2-19.10,变得19.11,2中a) ~ f)的故障、19.11.4以及后面的软件评估没有意义了。, Y5 u5 J& J. q- {0 K+ U
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! Q0 ]0 Y ~. Z# `0 E4 z2) 在GB4706-2005标准中19.12中规定:在此熔断器额定电流的2.1倍和2.75倍之间,则要将此熔断器短接并进行试验,试验持续时间:0 q) m2 x! n8 ~: f. _) z2 g
‧ 对速动熔断器:为一相应时间或30 min,两者中取时间较短者。
, |) Q- m& [: I. v' }$ t ‧ 对延时型熔断器:为一相应时间或2 min.,两者中取时间较短者。
; h9 A, ?& C9 [+ U/ _/ H 对快速熔断器的 试验时间为什么比 延时型熔断器还长? |
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