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有两个问题别人问我,我发来请各位同学探讨:
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1)在GB4706-2005标准中,在19.11.3 中规定:如果器具装有使器具符合第19章要求的保护电子电路,则按19.11,2中a) ~ f)的要求,相关试验以模拟单一故障的方式重复进行,如果这样的话就是既要按19.11,2中a) ~ f)的故障,又要符合19.2-19.10的故障条件,就是2个故障条件,还有就是如果19.11.3这样规定 ,以为本身就要符合19.2-19.10,变得19.11,2中a) ~ f)的故障、19.11.4以及后面的软件评估没有意义了。
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1 A4 G7 Y" ~2 D& Y/ u/ v8 \2) 在GB4706-2005标准中19.12中规定:在此熔断器额定电流的2.1倍和2.75倍之间,则要将此熔断器短接并进行试验,试验持续时间:4 { r8 }+ ?9 G; k; Z& d; w! V
‧ 对速动熔断器:为一相应时间或30 min,两者中取时间较短者。) p) @+ @- ?; }! M( E# }% }& f- n! v
‧ 对延时型熔断器:为一相应时间或2 min.,两者中取时间较短者。
& j7 n$ s0 U7 _( B* ~ 对快速熔断器的 试验时间为什么比 延时型熔断器还长? |
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