GB 3048/NBR 14898 高溫下的絕緣電阻測試方法

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4 x( H( p( a1 H& l" C$ @+ {
, w: C# H- h; X& z, R1 p       哪位曾完成過：GB 3048/NBR 14898GB 3048/NBR 14898 高溫下的絕緣電阻測試
      如：
     
6 ]. G4 y8 l9 ]; G; d) s樣品的準備如下：
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提示：电缆导体由多根导线绞合而成，它与绝缘层之间易形成气隙，导体表面不光滑，会造成电场集中。在导体表面加一层半导电材料的屏蔽层，它与被屏蔽的导体等电位并与绝缘层良好接触，从而避免在导体与绝缘层之间发生局部放电，这一层屏蔽为内屏蔽层；同样在绝缘表面和护套接触处也可能存在间隙，是引起局部放电的因素，故在绝缘层表面加一层半导电材料的屏蔽层，它与被屏蔽的绝缘层有良好接触，与金属护套等电位，从而避免在绝缘层与护套之间发生局部放电，这一层屏蔽为外屏蔽层；没有金属护套的挤包绝缘电缆，除半导电屏蔽层外，还要增加用铜带或铜丝绕包的金属屏蔽层，这个金属屏蔽层的作用，在正常运行时通过电容电流；当系统发生短路时，作为短路电流的通道，同时也起到屏蔽电场的作用。
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問題：
1.加了半導體材料的屏蔽層後，除防止電壓穿外及更好地與絕緣層接觸的外，是否也會加大原有的絕緣電阻.
$ {) p* c7 v3 V6 ~, B2.GB3048要求單芯線為取1.4m,多芯線需取3-5m,並需要測量芯線間的絕緣電阻.而TUV NBR 14898並沒有這樣的要求測芯線間的絕緣電阻.
3.請各位各抒己見，共同討論.
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