13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点）

ylgc123

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ed4.1版：13.2 泄漏电流通过用 IEC60990中图4 所描述的电路装置进行测量,测量在电源的任一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。被连接的金属箔面积不得超过20cm*10 cm,并与绝缘材料的易触及表面相接触。
--对Ⅱ类器具          0.25 mA

ed5.1版：13.2 对0类器具、 II类器具、 II类结构和 III类器具，使用 IEC60990中图4 所示的电路装置测量泄漏电流。对0I类器具和I类器具，C可由适用于器具额定频率的低阻抗电流表代替。

测量在电源的任一极和下述部件之间进行：

——对 I 类器具和 0I 类器具：打算与保护性接地连接的易触及金属部件；
——对0类器具、II 类器具、II类结构和III类器具：与绝缘材料的易触及表面接触、 面积不超过 20 cm×10 cm 的金属箔，以及不打算连接到保护性接地的金属部件
" E! c) s; k: m& X4 W
* \7 z# a0 z# |+ I& v3 G9 K5 A

--对Ⅱ类器具以及 II 类结构的部件   0.35mA 峰值

①ed5.1版本出来后，实验室内部针对泄漏电流的测试就将“I类器具”，及其上的“II类结构”进行了区分测试。需要进行2次单独测量。

②ed4.1版本的时候，将绝缘材料外壳与接地金属用铝箔纸接触后进行1次测量。

疑问：1、哪位大咖知道标准为什么在5.1版本中将II类结构单独出来？？？

          2、理论来说ed4.1版本是不是将I类结构、II类结构的泄漏值叠加起来显示在我们面前？而5.1版本是单独分开的。？？

          3、目前大神们各自做泄漏的金属箔贴合方式是怎么样的？

baicaizfl

1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行，还是要用figure 4网络去测试，所以要单列出来
' M) v% t# p# X  n: ?) X/ k2. 标准是在不断的完善，4.2版本不管三七二十一全部合在一起用网络测试，5.0版本改为除0类、II类、III产品用网络测试其它产品可以直接用电流表测，5.1版本发现有问题，把II类结构单独拿出来说也要用网络测试
2 i2 y) P- ]1 @8 ^" O- C( O7 M3. 按照5.1版本的，0I类、I类产品接地金属不用金属箔，直接测试就好了，II类结构部分盖金属箔，0类、II类、III类产品全部用金属箔

ylgc123

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
- w$ G& t- q! Q1 {% j①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类：II类结构是接触电流，而I类器具是保护导体电流。
   接触电流的U2最高峰值/500Ω；
9 A8 v  {# u# p) D/ |   保护导体电流是按照60990  8.3的说法，用一个0.5Ω安培表串进去测量即可。
; }  x; t1 ~& X6 |7 E   所以ed5.0的变化当时仅仅考虑了I类器具保护导体电流用低阻抗电流表来测量，没有考虑II类结构是接触电流的范畴。
   这也是为什么在ed5.0之后，泄漏电流限值有Pk和rms值的分别。
   【如果上述推论成立：Pk值变化原因，为什么II类结构单独出来，I类器具为什么不用网络都能解释】
0 v7 y" f9 s7 G' e$ h, v
! P- C. B! j7 V7 U, @- m/ \②baicaizfl兄，我还是不明白II类为什么不能用228表，按照我上面的推论，228表用起来更合理才对。

zhongwen_lee

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

楼上的回答正解！

Rocket-He

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
% G* K9 z" c4 q: K0 v/ |" |1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

" \5 N* E  q( U/ r+ Z, E9 i总结的针针见血，很赞！

ylgc123

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
. J, {) w, o2 d5 p% e; Q0 F1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

baicaizfl兄；
3 K" y' K( X9 ]% k' h/ k& k' J关于第1点，对228这个表不是特别了解，但是以前看UL的时候和229-2对比过。
228中说明书的figure3中电路（react档），不就是60990中的图4吗？
! x/ \' Q3 ~! r: T% x' ?228设计的时候针对的是IEC60950来设计的设备，测量出来U2后自己去除以500，为什么这个表就不能在CLASS II结构上使用？？？

没理明白为什么228这个表就不能测II类结构。其他都回复非常ok，非常感谢~~
) q2 e' ?, W2 q' Y  r) X% ?: U' ~是因为pk值和rms值的原因吗？这个应该也可以手动换算呀~

. X1 B% {: p: E$ a另外，baicaizfl兄是否了解为什么IEC认为I类器具可以不用网络来测试？就算UL那边的家电，229-2表中还留有一套小网络。

baicaizfl

ylgc123 发表于 2018-10-22 17:08
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类： ...

4 P: X( p' t! U; i哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I我是想说毫安表来着

vernal.meng

baicaizfl 发表于 2018-10-22 18:01
2 n3 f0 T# ~/ R* O2 H2 k" S0 W( K哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I ...

5 j" M: ]% F5 D& W0 {2 m$ F4 I你好，对于I 类器具的可触及绝缘表面还是要用测试网络吧

人间庄严

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