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标题: MTBF测试 [打印本页]

作者: hzwanglei 时间: 2011-11-12 21:04
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作者: 山炮 时间: 2011-11-13 00:59
零部件的话可参考GB/T1772-1979《电子元器件失效率试验方法》，已作废，但服从的统计学原理是一样的。
成品设备的话可以参考一些原电子工业部的产品标准，很多都会有。GB5080《设备可靠性试验总要求》很难应用。

作者: jaden 时间: 2011-11-14 15:39
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作者: ragnar 时间: 2012-1-11 16:39
可以用电解电容的寿命来粗略的估算一下

作者: bluefairy 时间: 2012-1-12 16:54

ragnar 发表于 2012-1-11 16:39 & ~2 E9 e [0 C# q: W) ]
可以用电解电容的寿命来粗略的估算一下

MTBF给电容的寿命是两码事

作者: qianjinzhong 时间: 2012-2-5 17:56
MTBF的计算好像很困难，一般应用上比较少，像通讯类整机产品怎么计算？求教

作者: jsspace 时间: 2012-2-10 11:46
举一个最简单的列子给你。
10个样品，工作100个小时后，有两个FAIL。
那么MTBF=(10*100)/2=500小时

作者: 山炮 时间: 2012-2-10 13:07
赠过期作废标准一份。
[attach]69990[/attach]

作者: berry0512 时间: 2012-4-18 15:55
给出目标值，加速因子计算AF=exp[Ea/K(1/Tu-1/Ts)],

作者: kingau2012 时间: 2012-5-18 11:30
我也在找啊，电解只是一部分，MTBF是全部器件的寿命评估，公式很复杂，可是大客户都会要的

作者: sharkxiao 时间: 2012-6-15 09:09
我们都是按照MIL-HDBK-217F估算的，但MTBF是骗鬼的，现在的标准N年都没更新过了。
如果想真正了解产品的可靠性，需要统计年失效率！

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