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标题: 折磨了我一天的问题 [打印本页]

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作者: defong    时间: 2011-10-7 16:09
标题: 折磨了我一天的问题
测试条件如下:
* t& P1 r0 v( E( s8 a" C( M1 产品为S.R.C.D类型的插座
; g$ h+ ?7 ]2 E* h2 测试波形参数为1.2/50us---8/20us
) J& D$ ~3 x# [& v" `3 产品做CE认证,出售英国.

7 l- M9 |  b- b: j; T7 p请问: 1    测试参数是否为 共模 4000V,  差模 2000V
          2    测试后是怎么判定的. 是不能脱扣?.....还是可以脱扣,只要功能正常就可以.
1 T1 {: p: g1 L: K) \# g
查了一下相关的标准...IEC 61543 中说的是可以脱扣.
5 m$ \7 q( z% z- I( s6 `                                      GB17626.5  对应的IEC61004-4.5 也是可以.
但.......EN 61543  中的表5 判定却是不能....


8 |+ w0 A9 Z) w% w7 R请大家帮我....

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作者: wang8494    时间: 2011-10-7 16:14
最好问问你的客户，他们用的标准是哪个，不然你是白费力气的，
' M  M" p* i6 @. q% G# c5 H4 r
' x) i: |8 A, I) B（俺吃过好几次亏，按标准测试完了，人家不认同。）

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作者: H-RH    时间: 2011-10-7 16:49
According to EN 61543:1995+A1+A2+A3:

8 c+ t# C; c: eIn table 5, T2.3a have a note 1 to PRCD & SRCD,
) S+ ~# v& h% ]' \. e' p( }5 {  G
7 ?) ]' {* U2 r# O4 P2 ~- ^Note 1 include the following statement:
  t! N2 j) H  E2 P( d1 pFor SRCDs and PRCDs the performance criterion is given in 5.1.3 and only T2.3a has to be performed.
. x, S+ a# v" E7 Q: ?0 M
5.1.3 During the test making reference to this performance criterion the RCD may trip.

Per my understanding, trip is allowed.

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作者: defong    时间: 2011-10-7 17:27
but  I  have no that standard you mentioned above       EN 61543:1995+A1+A2+A3: will you share it with us. i searched it ,but finally ,i can only found the edition of 1996.

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作者: H-RH    时间: 2011-10-7 19:04
龙王已经发了在这里很久:
" r4 r) L) u0 n# R) J' |0 A2 ?0 }http://www.angui.org/read.php?tid-83463.html

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作者: defong    时间: 2011-10-8 08:23
oh my god ,i 'm so careless that i haven't found out that statement espcially for the SRCDs and PRCDs since i check it again. thanks for your help.H-RH.you are so kind.

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作者: jackychen    时间: 2011-10-8 13:46
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