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标题: 光电藕的绝缘穿透距离如何测量 [打印本页]

作者: 5821331    时间: 2010-4-26 16:56
标题: 光电藕的绝缘穿透距离如何测量
光电藕的绝缘穿透距离如何测量?请大家指导一下。
作者: jqheart    时间: 2010-4-26 17:18
不是很清楚,找相关标准看看     [s:5]
作者: lanfeiyuner    时间: 2010-4-26 17:44
不知道VDE怎么测量的,你也没那个仪器吧.
- c, q& o7 b% P+ n+ O+ hVDE证书上有穿透距离
作者: ok_hmh    时间: 2010-4-26 18:40
同意楼上的说法啊。。我想问下:大家在做认证的时候有没有考量过这个绝缘穿透距离啊?
作者: junpi    时间: 2010-4-26 22:38
VDE证书上面都会写出绝缘穿透距离
作者: Alexsong    时间: 2010-4-27 17:06
一般整机认证时,直接参考其安规证书, 但要随机进行耐压测试.
作者: martin_chiu    时间: 2010-5-4 19:43
光電耦二極體必須有零件的認證, 在認證時即會考量此部分
作者: kk20082008    时间: 2010-5-4 21:00
不是太清楚,光耦有认证就好了。
作者: sunzr2004    时间: 2010-5-7 17:07
耐压测试,找证书,上面有信息的。
作者: faige2006    时间: 2010-5-10 14:40
搞了半天, 還是沒人知道? 有生產opto的嗎?
作者: iec60950-1    时间: 2010-5-12 10:13
找一个工具,把光耦上方磨平,直到露出金属部分后,用千分尺进行测量。
作者: 阿bin    时间: 2010-5-12 19:49
引用第10楼iec60950-1于2010-05-12 10:13发表的  :; h2 B. T1 a( ~
找一个工具,把光耦上方磨平,直到露出金属部分后,用千分尺进行测量。
楼上的这种做法似乎可行哦。不过一般整机认证都要求要有认证的光耦,但是应该可以做随机,主要考虑绝缘穿透距离和耐压测试。
作者: wolfxu    时间: 2010-5-13 11:41
引用第10楼iec60950-1于2010-05-12 10:13发表的  :
0 Q+ |9 {) r6 C0 Y( O0 ?& o找一个工具,把光耦上方磨平,直到露出金属部分后,用千分尺进行测量。
绝缘穿透距离是量里面的金属吗?
作者: 豆浆油条    时间: 2010-5-17 13:54
光藕有认证证书即可
作者: wpcily    时间: 2010-5-20 15:20
OPTO里的原边和副边的晶片间的最短距离,可以考虑采用楼上的磨平外面塑封的方法哦....




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