引用第1楼caballo3157于2007-07-18 07:25发表的 :
你说的情况应该主要是针对II类电器或II类结构而言吧。
提高测试电压并不能替代金属箔的完全覆盖。这相当于局部加严而另一局部漏测。事实上在II类电器或II类结构上测试,要保证金属箔的完全覆盖是一件困难的事情。通常会在最关键和最薄弱的环节做这一测试。
1 T3 Q5 S3 W) Z+ u2 h# q: w
此外,附录A是资料性附录,不是强制执行的。3300V/1S是比较附录A加严的一种做法吧。3300V是型式试验3000V的1.1倍,因为时间短了。
引用第3楼myhet于2007-08-12 12:42发表的 :
大家看13.3 的TABLE4,(60335-1 IEC:2001+A1:2004+A2:2006) 假如加强绝缘的产品的额定电压为300V,那么耐压测试时是2U+2400=3000V还是4U+2400=3600V还是2.4U+2400=3120V?请高手指点。那个2,4是2.4的意思吧?
引用第7楼allen2008于2007-08-22 16:52发表的 :3 V0 _. N, @7 C/ Q
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是2.4
引用第3楼myhet于2007-08-12 12:42发表的 :
大家看13.3 的TABLE4,(60335-1 IEC:2001+A1:2004+A2:2006) 假如加强绝缘的产品的额定电压为300V,那么耐压测试时是2U+2400=3000V还是4U+2400=3600V还是2.4U+2400=3120V?请高手指点。那个2,4是2.4的意思吧?
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