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标题: 请教335标准19.11的一个非正常测试的问题 [打印本页]

作者: china_player 时间: 2008-8-14 22:45
标题: 请教335标准19.11的一个非正常测试的问题
19.11中有一个非正常测试是:三端双向可控硅以二极管方式失灵,请问这个测试在实际操作中应该怎么实现? 谢谢!

作者: daniel.qiao 时间: 2008-8-15 13:23
用二极管代替双向可控硅, 因为双向可控硅有三个端子,接控制信号的端子断开,直接用二极管的两个端子取代可控硅另外两个端子.

作者: 浪子边城 时间: 2008-8-15 13:35
沒碰到過類似的產品，不太清楚

作者: china_player 时间: 2008-8-16 08:50
一楼的意思是不是说在测试的时候自己准备一个二极管接在可控硅的阳极和阴极之间,把控制极断开.

作者: wind_li 时间: 2008-8-18 11:51
没错,是用一个二极管代替三极管

作者: 马蹄 时间: 2008-8-19 17:35
用二极管代替可控硅，控制极忽略～

作者: xuewenfei 时间: 2009-6-6 23:56
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作者: peter1715 时间: 2009-6-7 10:28
短路可控硅的任意两个脚，就是做元器件的异常测试啊

作者: lgs8317 时间: 2009-6-7 11:36
19.11本来就是异常地的啊

作者: ahead 时间: 2009-6-7 16:34
短路任意两级，做3次

作者: victorzang 时间: 2009-6-8 20:26
先看电路图，看能否确认故障的情况下有什么可视的异常现象，如果无法判断电路硬件的异常，再进行短路故障测试也不迟。

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