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标题: IEC 62368-1 耐电压测试方法 ？ [打印本页]
作者: huiai    时间: 2022-4-1 11:46
标题: IEC 62368-1 耐电压测试方法 ？
我司产品如下图 ：
, R- \! O9 I* \4 {+ w2 t
3 |0 E0 Q( [0 C+ p- ?$ S/ ~+ q: y7 i& z. v+ c; L9 s& h0 C+ C$ I
" o- k# I( t; `& C
机构测试耐电压3000V（L、N极短路与USB输出或Type-C输出之间），出现光耦击穿，测试不合格 。7 j) r* z+ ~- ?( A. t# |
% [2 I. B0 H1 g
请教各位大神，机构这样测试是否正确？
6 {' h' }  ]; M+ ^4 J2 _9 ~; Q. f& }& |9 J; P% |( y& j
另外线路板供应商提出的测试方法：是需要将USB与Type-C短路作为一极，LN短路作为一极，进行耐电压测试？( b. v* ?, }, F  q: h, X
# A  r* s* }7 w  B* Z$ e% r' w6 J
那种方法正确？标准IEC 62368-1 5.4.9条款也没有明确说明 。
/ n) b' X( @" q
; E& b3 f" ~1 M8 a, T; _2 |* x9 Y请各位大神帮忙释疑，谢谢 ！
* L$ B$ j# _2 d5 b: Y5 o
作者: huiai    时间: 2022-4-2 08:14
大神在哪里？
作者: af204    时间: 2022-4-2 08:45
方法应该没问题，都是把电源的LN短接作为一极，输出作为另一极
作者: huiai    时间: 2022-4-2 08:49
本帖最后由 huiai 于 2022-4-2 08:50 编辑 ' z( K6 ?5 v" y+ K
af204 发表于 2022-4-2 08:45
! @; \3 K3 N  l0 J, B, @方法应该没问题，都是把电源的LN短接作为一极，输出作为另一极
7 }7 J3 K* j+ O1 k, H' R+ p- ]/ n
恩，是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ，这两个口是短路作为一极，还是单独一个输出口作为一极呢？
作者: 45550629    时间: 2022-4-2 09:17
huiai 发表于 2022-4-2 08:49- z4 T2 A# A  a( }! m/ @& s
恩，是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ，这两个口是短路作为一极，还是单独一个输出口作为一极呢？
6 c3 [0 R" e% y6 ~" ]
两个端口都需要打的，如果样品本身不行，打哪里都是会击穿的
作者: huiai    时间: 2022-4-2 10:06
45550629 发表于 2022-4-2 09:17
; ?' W4 f7 ?# X1 D两个端口都需要打的，如果样品本身不行，打哪里都是会击穿的
, G7 I1 W$ i7 Y& o9 [7 V3 L( c
两个输出口短路作为一极，测试是可以通过的 。但是，单独对一个输出口，打3000V高压，就会出现击穿 。
作者: rocknan    时间: 2022-4-6 08:23
本帖最后由 rocknan 于 2022-4-6 08:24 编辑
5 ^  J9 Y/ A; M* a# c7 D. N+ q
- v4 q& d/ _/ u% `' `3 W方法大致上沒錯
8 W4 i- P' a' o0 X1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )
1 b* B, c8 f4 Z$ d5 @  Q# X; }   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary(2次側, ELV側, SELV側)5 m% B1 v3 s: f' m" o3 y5 B* ?* t4 d
   Secondary 可以所有I/O port捆一起打, 也可以一個一個 I/O port 打- N$ N4 ^3 N! B
   打 Secondary I/O port 的時候, 如果I/O port 的GND pin 會造成 絕緣 降為 Basic
6 U  d3 r" ]. T* G& c: f   哪就要把 GND pin 挑出來不要一起打 (這個很重要)! G2 p( L0 `- H! k; ?0 F
   好彼說: USB2.0 port 有4pins (pin1: 5Vdc, pin2,3: data pins, pin4: GND), / E9 w6 z  D& [' p% m) C/ @& g
   很多人都會4個pin捆在一起當 Secondary 一起打
! b0 g% a2 L- s& G( w   但是 pin4: GND 可能是跟 一次側的 Earth 有連接, 導致 pin4: GND 對 L/N 是 Basic
) d& w. o$ k+ H0 V: S   那 把 4個pin 捆在一起時, 等於是把 pin4: GND (Basic), 拿來試驗Double/ Reinforced的電壓6 q5 p" o& F9 p$ W, A
   要注意
4 c1 e$ X1 z# W5 |$ @8 k4 ?3 A0 l: E2, L/N to plastic enclosure.* v, S! Z- a* k! u
.
/ k, R( c2 q! O還有, 如果 3000Vac 打不過, 可以打4242Vdc 看看6 K- }; S* c+ C: ~. C8 L# R% K
有時候 AC電壓打不過, 但是DC電壓打得過& I) D- t3 Z6 V  p4 ]- c
(那是零件特性問題)
0 \& D" i, m& ^9 J
0 E( E, W9 @0 x- O$ f2 t' m
作者: huiai    时间: 2022-4-6 14:10
rocknan 发表于 2022-4-6 08:23
7 @5 X4 L5 k9 F+ W9 |方法大致上沒錯$ @$ r2 \  ~8 O, j% e1 d/ S; P, K/ w* L
1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )+ S% Q  o% B; X8 ]
   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary ...
2 b& A+ Y+ Q: F& k
OK , 谢谢您！
作者: Berryang    时间: 2022-4-6 20:11
点赞 Rocknan
+ a- B- A' M' Z/ c; G0 c1 t不过从图上看， 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.  故3KVac or DC 不能PASS ，还是应判NG。
作者: rocknan    时间: 2022-4-7 13:00
Berryang 发表于 2022-4-6 20:11% a# ~4 ]0 o+ G& b" d7 F8 ?0 J) |
点赞 Rocknan
! C+ A8 V. `: _; h: V; W不过从图上看， 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.  故3 ...
5 c. A  |% n8 I/ j( u
對阿, 如果 該注意的有注意到, 測試方法也沒錯, 那該是NG 就是NG , 哈~



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