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标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点） [打印本页]
作者: ylgc123    时间: 2018-10-19 14:10
标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点）
ed4.1版：13.2 泄漏电流通过用 IEC60990中图4 所描述的电路装置进行测量,测量在电源的任一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。被连接的金属箔面积不得超过20cm*10 cm,并与绝缘材料的易触及表面相接触。
  K- d6 ]# N( ] --对Ⅱ类器具          0.25 mA
ed5.1版：13.2 对0类器具、 II类器具、 II类结构和 III类器具，使用 IEC60990中图4 所示的电路装置测量泄漏电流。对0I类器具和I类器具，C可由适用于器具额定频率的低阻抗电流表代替。
测量在电源的任一极和下述部件之间进行：
——对 I 类器具和 0I 类器具：打算与保护性接地连接的易触及金属部件；* k+ ~" Q% {( o$ H7 D. B/ J; Q
——对0类器具、II 类器具、II类结构和III类器具：与绝缘材料的易触及表面接触、 面积不超过 20 cm×10 cm 的金属箔，以及不打算连接到保护性接地的金属部件
- _2 Q" y3 H6 g( Z* L: X
9 F$ B/ a2 c8 B+ K6 M8 b: x* B
--对Ⅱ类器具以及 II 类结构的部件   0.35mA 峰值

0 c4 H$ z+ [6 b1 e- |8 s; u
①ed5.1版本出来后，实验室内部针对泄漏电流的测试就将“I类器具”，及其上的“II类结构”进行了区分测试。需要进行2次单独测量。
②ed4.1版本的时候，将绝缘材料外壳与接地金属用铝箔纸接触后进行1次测量。
' r5 X  K) c; ?; p" `9 j" C* a
疑问：1、哪位大咖知道标准为什么在5.1版本中将II类结构单独出来？？？
          2、理论来说ed4.1版本是不是将I类结构、II类结构的泄漏值叠加起来显示在我们面前？而5.1版本是单独分开的。？？
          3、目前大神们各自做泄漏的金属箔贴合方式是怎么样的？
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行，还是要用figure 4网络去测试，所以要单列出来
3 V! `; Y( \) m3 l$ s  d2. 标准是在不断的完善，4.2版本不管三七二十一全部合在一起用网络测试，5.0版本改为除0类、II类、III产品用网络测试其它产品可以直接用电流表测，5.1版本发现有问题，把II类结构单独拿出来说也要用网络测试  z, x& ^9 ]" d
3. 按照5.1版本的，0I类、I类产品接地金属不用金属箔，直接测试就好了，II类结构部分盖金属箔，0类、II类、III类产品全部用金属箔
作者: zhongwen_lee    时间: 2018-10-19 16:41
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
: g/ w# f% I9 b! t4 m- z$ N1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

& W  [8 }1 s" D楼上的回答正解！
作者: Rocket-He    时间: 2018-10-19 22:05
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:095 u) q6 K$ a0 `. Z
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

7 C8 W" E/ M$ `% j4 B9 \总结的针针见血，很赞！
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 10:47
本帖最后由 ylgc123 于 2018-10-22 11:32 编辑 ; }2 n0 ?5 Y6 T2 K
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
) _! \7 ~8 [% u4 N6 s1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

+ L, p& f  h; h; s+ Ebaicaizfl兄；$ b& v( U! ?2 b! W
关于第1点，对228这个表不是特别了解，但是以前看UL的时候和229-2对比过。6 G+ {8 M5 G, @; z) N- A
228中说明书的figure3中电路（react档），不就是60990中的图4吗？
5 ^5 t: G/ j6 B228设计的时候针对的是IEC60950来设计的设备，测量出来U2后自己去除以500，为什么这个表就不能在CLASS II结构上使用？？？
9 T' X3 O6 ^1 J, L
6 j. T9 W+ [0 H! }8 N# H没理明白为什么228这个表就不能测II类结构。其他都回复非常ok，非常感谢~~
+ b# E1 r% V9 B  K, {4 n  N是因为pk值和rms值的原因吗？这个应该也可以手动换算呀~
# R9 _2 K+ x* l* n+ {
( y4 C" T" d2 w1 e另外，baicaizfl兄是否了解为什么IEC认为I类器具可以不用网络来测试？就算UL那边的家电，229-2表中还留有一套小网络。
0 |9 f0 V: G' k7 j- o! \
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 17:08
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
  A8 X& b% O9 G# b8 z7 R  b1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
4 Y$ T1 S) o, y# D' r
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
6 ^; }9 [) k3 }3 \3 {' K①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类：II类结构是接触电流，而I类器具是保护导体电流。
; c9 H' K6 @, S& l2 ?: C' @( n5 B- }   接触电流的U2最高峰值/500Ω；
( u% r2 {7 }/ t  Q9 P: d   保护导体电流是按照60990  8.3的说法，用一个0.5Ω安培表串进去测量即可。
  q2 b# @* u; l: o" {   所以ed5.0的变化当时仅仅考虑了I类器具保护导体电流用低阻抗电流表来测量，没有考虑II类结构是接触电流的范畴。
) M2 c. ~* H4 D' h1 a   这也是为什么在ed5.0之后，泄漏电流限值有Pk和rms值的分别。
* l. |0 j5 ^2 @6 @1 E   【如果上述推论成立：Pk值变化原因，为什么II类结构单独出来，I类器具为什么不用网络都能解释】  j& R& x! S' y4 R- v% u3 G1 w& v

/ l. m1 ?& S. H$ W4 d% l3 V②baicaizfl兄，我还是不明白II类为什么不能用228表，按照我上面的推论，228表用起来更合理才对。
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-22 18:01
ylgc123 发表于 2018-10-22 17:08  |% o& z9 I( X
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：( g9 U" |) J/ x4 h6 F
①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类： ...

* ]& l& O! z7 c- x% z+ r' ^哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I我是想说毫安表来着
作者: vernal.meng    时间: 2019-11-14 09:18
baicaizfl 发表于 2018-10-22 18:01
& R! u% H; |. Z1 a" K哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I ...
# f$ h" _+ h) Z0 P5 E* o7 X) c
你好，对于I 类器具的可触及绝缘表面还是要用测试网络吧
作者: 人间庄严    时间: 2022-10-18 10:20
有用，受用，已截图打印出保存



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