2 c1 j! z+ B7 ?) [! r! Y d1 U1 V" z: A" w5 I) Q第一种方法:Readings were taken directly in MIU using a suitable leakage current meter (i.e.: Simpson 228 set to "let go", etc.). % O7 L0 W- G; }- j2 G $ Q# `3 @* `0 y2 |* A6 W第二种方法:Readings were taken in millivolts using a suitable voltmeter connected across the test circuit defined in UL935, Figure 24.2. These readings were then converted to MIU by dividing them by 500. 9 ~9 @9 Z9 c- p3 T作者: jsspace 时间: 2015-10-22 15:07
哥来了。5 y" }8 [6 o) r" |' Z' U, m4 D+ w; n
1)标准上只提到了第二种方法,但是实际上UL是接受两种方法的,且他们更加推荐用第一种方法。2 E' V- {; k+ k+ q+ p: v* c( y
2)从阻抗网络跟500欧电阻的区别来看,两个测试确实是有差异的,但是不会差异这么大,请检查你的测试方法是否正确。 作者: simonzhang 时间: 2015-10-22 22:59
jsspace 发表于 2015-10-22 15:07 ) d" m( G+ n. U( D哥来了。' A1 k. g. |) }0 d9 \$ \$ n4 o
1)标准上只提到了第二种方法,但是实际上UL是接受两种方法的,且他们更加推荐用第一种方法。" r$ ?! j+ `* O
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1 D P& q8 p9 n+ M+ v谢谢版主回复。我也怀疑是测试方法的问题,今天下午研究了一下午标准,也还是没弄清楚......