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标题:
GB 3048/NBR 14898 高溫下的絕緣電阻測試方法
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作者:
vernal.meng
时间:
2013-6-27 13:46
标题:
GB 3048/NBR 14898 高溫下的絕緣電阻測試方法
本帖最后由 vernal.meng 于 2013-6-27 13:50 编辑
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哪位曾完成過:GB 3048/NBR 14898GB 3048/NBR 14898 高溫下的絕緣電阻測試
- G$ ?8 K' X5 O
如:
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樣品的準備如下:
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提示:
电缆导体由多
根导线绞合而成,它与绝缘层之间易形成气隙,导体表面不光滑,会造成电场集中。在导体表面加一层半导电材料的屏蔽层,它与被屏蔽的导体等电位并与绝缘层良好接触,从而避免在导体与绝缘层之间发生局部放电,这一层屏蔽为内屏蔽层;同样在绝缘表面和护套接触处也可能存在间隙,是引起局部放电的因素,故在绝缘层表面加一层半导电材料的屏蔽层,它与被屏蔽的绝缘层有良好接触,与金属护套等电位,从而避免在绝缘层与护套之间发生局部放电,这一层屏蔽为外屏蔽层;没有金属护套的挤包绝缘电缆,除半导电屏蔽层外,还要增加用铜带或铜丝绕包的金属屏蔽层,这个金属屏蔽层的作用,在正常运行时通过电容电流;当系统发生短路时,作为短路电流的通道,同时也起到屏蔽电场的作用。
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問題:
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1.加了半導體材料的屏蔽層後,除防止電壓穿外及更好地與絕緣層接觸的外,是否也會加大原有的絕緣電阻.
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2.GB3048要求單芯線為取1.4m,多芯線需取3-5m,並需要測量芯線間的絕緣電阻.而TUV NBR 14898並沒有這樣的要求測芯線間的絕緣電阻.
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3.請各位各抒己見,共同討論.
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